今天來(lái)給大家科普一下紅外光譜儀的光譜范圍。

　　紅外光譜儀器的光譜范圍，對(duì)一般商售儀器，普及型為5000cm-1到600 cm-1;研究型儀器紅外光譜范圍為7800 cm-1到200 cm-1或20 cm-1。全光譜范圍可以從l0000 cm-1到l0 cm-1，但由于應(yīng)用范圍有限，目前10000 cm-1到7000 cm-1，20 cm-1到10 cm-1應(yīng)用較少。一般是通過(guò)更換探測(cè)器和分束器來(lái)達(dá)到這一寬光譜范圍。習(xí)慣上把10000 cm-1至4000 cm-1范圍稱(chēng)為近紅外光譜;4000 cm-1至400 cm-1范圍稱(chēng)中紅外光譜;400 cm-1至l0 cm-1范圍稱(chēng)為遠(yuǎn)紅外光譜。金屬有機(jī)化合物的有機(jī)鍵振動(dòng)，許多無(wú)機(jī)化合物的鍵振動(dòng)，晶架振動(dòng)及分子的轉(zhuǎn)動(dòng)光譜多出現(xiàn)于遠(yuǎn)紅外光譜區(qū)。
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　　電子元件的設(shè)計(jì)和包裝首要考慮溫度因素

　　需要更高可靠性的產(chǎn)品，帶動(dòng)散熱設(shè)計(jì)，最前沿的發(fā)展電子元件和系統(tǒng)。它是眾所周知的一種電子裝置的可靠運(yùn)行在很大程度上取決于其工作溫度 - 下操作的溫度，長(zhǎng)期的時(shí)間越長(zhǎng)組件的可靠性。無(wú)數(shù)次的試驗(yàn)和經(jīng)驗(yàn)的測(cè)量已經(jīng)證實(shí)，元件故障率呈指數(shù)與溫度有關(guān)，由于一些熱依賴(lài)性失效機(jī)理。不僅如此，任何多余的溫度超出設(shè)計(jì)極限將導(dǎo)致該組件的瞬間故障，因此該系統(tǒng)的其余部分。這樣的散熱設(shè)計(jì)一直穩(wěn)步上漲作為重要的電子元件的設(shè)計(jì)和包裝的兩個(gè)主要的考慮因素之一和系統(tǒng) - 另一個(gè)是實(shí)際的產(chǎn)品功能。

　　散熱設(shè)計(jì)有針對(duì)性的熱量所產(chǎn)生的管理一個(gè)包羅萬(wàn)象的學(xué)科電子電路。因此，它是涉及在電子在芯片或器件水平的包裝，在板的水平，在機(jī)箱或外殼的水平，并在室溫水平。一級(jí)抓一級(jí)，快速及持續(xù)

　　封裝密度帶來(lái)了巨大的挑戰(zhàn)，電子冷卻，并且有越來(lái)越多是一個(gè)需要散熱設(shè)計(jì)，采取協(xié)同或全面的方法，盡量增加效率在所有包裝層次共同以及個(gè)別地在每一個(gè)級(jí)別。

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